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自由跌落测试仪

简要描述:

自由跌落测试仪标准依据:UL 2054、UL1642、GB/T 18287-2000、SJ/T 11169-1998、SJ/T 11170-1998、YD 1268-2003、YD 1268.2-2003、GB 8897.4-2002、QB/T 2502-2000、QB/T 2947.3-2008、QC/T 743-2006、QC/T 744-2006、GB/T 18333.1-2001。

更新时间:2017-07-14

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自由跌落测试仪

自由跌落测试仪

一、自由跌落测试仪用途:本机用于电池、包装箱、MP3等电子制品及零部件之自由跌落测试。

二、标准依据:UL 2054、UL1642、GB/T 18287-2000、SJ/T 11169-1998、SJ/T 11170-1998、YD 1268-2003、YD 1268.2-2003、GB 8897.4-2002、QB/T 2502-2000、QB/T 2947.3-2008、QC/T 743-2006、QC/T 744-2006、GB/T 18333.1-2001、HEV、EV等测试标准。

三、主要技术参数:

规格型号:HE-F-315S、HE-F-320S

跌落高度:300~1500MM、300~2000MM

整机尺寸:W700*D900*H1760MM、W700*D900*H2260MM

 

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